edx元素映射怎么分析？

測(cè)試能譜后，相應(yīng)的軟件顯示元素的類型以及該元素對(duì)應(yīng)的峰形。有時(shí)候還有很多不為人知的其他元素。這時(shí)候你要根據(jù)你要檢測(cè)的物質(zhì)所含元素的成分來區(qū)分它們。

測(cè)試時(shí)分為面掃描和點(diǎn)掃描。面掃描對(duì)應(yīng)的是SEM上顯示的一個(gè)面中元素的含量，點(diǎn)掃描對(duì)應(yīng)的是點(diǎn)(實(shí)際上因?yàn)樘筋^會(huì)浮動(dòng)，所以也會(huì)采集附近/周圍點(diǎn)的元素)。

收集時(shí)間的長(zhǎng)短決定了峰的強(qiáng)度。一般為了數(shù)據(jù)可靠，采集時(shí)間比較長(zhǎng)。

最后，EDX將以At%和wt%給出每種元素的數(shù)據(jù)，其中At%代表原子百分比，wt%代表質(zhì)量百分比。

根據(jù)wt%除以各種元素的相對(duì)原子質(zhì)量，可以計(jì)算出該物質(zhì)的結(jié)構(gòu)式。然而，EDX只是一種半定量的測(cè)試方法，結(jié)果不夠準(zhǔn)確。為了獲得更精確的數(shù)值，可以使用ICP(含金屬物質(zhì))。

eds與edx測(cè)試原理有何不同？

EDX是熒光分析，EDS是能譜分析，后者不是X射線能譜儀。如果想準(zhǔn)確量化，可以考慮化學(xué)分析，XPS或者AES。XPS和AES更適合表面內(nèi)容。

EDX(或EDS)為什么不可以檢測(cè)H元素？

為什么可以EDX能譜分析儀分析氫、氦和其他元素

因?yàn)闅浜秃ぶ挥幸粚与娮樱珽DX需要激發(fā)內(nèi)層的一個(gè)電子，外層電子組成內(nèi)層時(shí)發(fā)射X射線來獲取數(shù)據(jù)，而HHe只有一層電子，沒有外層電子躍遷就沒有X射線。

eds和edx區(qū)別？

區(qū)別如下:

1.EDX是熒光分析，EDS是能譜分析，EDXRF是能量色散熒光X射線。

2、EDS能量色散普儀，根據(jù)能譜來看，主要器件是鋰硅半導(dǎo)體探測(cè)器，主要利用X射線量子的能量差來分析元素。

3.EDX是通過分析樣品發(fā)出的元素特征X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度來實(shí)現(xiàn)的，根據(jù)元素特征X射線波長(zhǎng)的不同來確定樣品中所含的元素。通過比較不同元素的譜線強(qiáng)度，可以確定樣品中元素的含量。EDX通常與電子顯微鏡結(jié)合使用。可用于樣品的微區(qū)成分分析。